高溫四探針測試儀
*高溫度 1650°c
測量范圍 0.1mΩ-100MΩ
溫度精度 ±0.25°c
*快測量 6.4ms
更多功能 高溫四探針、退火
高溫I-V特性測試
高溫真空測量
高溫氣氛測量
高溫?zé)Y(jié)/退火
高溫四探針測量
消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響
高溫四探針測試儀采用直排四探針法設(shè)計原理測量。主要用于評估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能,參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,采用雙屏蔽高頻測試線纜,提高測試參數(shù)的**度,同時抗干擾能力更強。本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。
搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置,符合功能材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的**;資料保存機制,當(dāng)遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗數(shù)據(jù),設(shè)備重新啟動后可恢復(fù)原有試驗數(shù)據(jù)。
源測量儀器的精密耦合特點相對分立儀器具有許多優(yōu)點。例如,它具有更短的測試時間,通過減少GPIB的流量并簡化了遠程編程接口。它還保護被測設(shè)備在偶爾過載、熱失控等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設(shè)置回讀使器件測量完整性*大化。如果回讀達到可編程容限的極限,那么該源就被鉗位在此極限,從而提供錯誤保護。
消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響
華測系列阻抗分析儀是華測儀器電子事業(yè)部采用當(dāng)前***自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器,為國產(chǎn)阻抗測試儀器的*新高度。也徹底超越了國外同類儀器,在測量10Hz-50MHz的頻率瓶頸;解決了國外同類儀器只能分析、*********;采用單測和分析兩種界面,讓測試更簡單。得益于***自動平衡電橋技術(shù),在10Hz-50MHz的頻率范圍可以保證0.05%的基本精度。 快達5ms的測試速度及高達50M的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響,將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴展了十倍。
消除不規(guī)則輸入的自動平均值功能 更強數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽
華測近紅外高溫爐配合吉時利數(shù)字源表進行四探針電阻測量,讓測試更加穩(wěn)定可靠,吉時利數(shù)字源表系列專用于要求緊密結(jié)合源和測量 的測試應(yīng)用。全部數(shù)字源表型號都提供精密電壓源和電 流源以及測量功能。每款數(shù)字源表既是高度穩(wěn)定的直流 電源也是真儀器級的6位半萬用表。此電源的特性包括 低噪聲、精密和回讀。此萬用表的功能包括可重復(fù)性高和低噪聲。*終形成了緊湊、單通道、直流參數(shù)測試儀。 在工作時,這些儀器能用作電壓源、電流源、電壓表、電流表和歐姆表。源和阱(4象限)工作,0.012%基礎(chǔ)測量精度(6位半分辨率)。 2線、4線電壓源和測量感測1700讀數(shù)/秒(4位半分辨率),通過GPIB通過/失效比較器用于快速提供高速感測線接觸檢查功能,在半導(dǎo)體、功能材料行業(yè)吉時利數(shù)字源表是適于特性析和生產(chǎn)測試等廣泛應(yīng)用的重要源表。
專用高頻測試線纜,更適合高頻測量
測試引線使用4端子對配置以擴展測量端口,附帶BNC陽頭連接板,用于連接高溫爐的測試夾具,同時測試線采用高頻測試專用測試線,設(shè)計兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量。
儀器優(yōu)勢:
1、它可以勻速、階梯(升\降溫)、循環(huán)沖擊,真空、氣氛等多種的加熱方式。
2、采用***移相觸發(fā)技術(shù),完全可實現(xiàn)控制精度波動±0.25°c 以內(nèi),溫控精度更高。
3、加熱速度更快、更快,同時它可以提供了材料的更多的測試環(huán)境。
更加優(yōu)異的加溫方式
目前國內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐,主要原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱,加熱與降溫過程速度慢,效率低下。也無法實現(xiàn)溫度的高精度測量,加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象,華測儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實現(xiàn)高精度,高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置,在高速加熱及高速冷卻時,具有良好的溫度分布。 可實現(xiàn)寬域均熱區(qū),高速加熱、高速冷卻 ,用石英管保護加熱試樣,無氣氛污染??稍诟哒婵?,高純度氣體中加熱 。設(shè)備可組成均熱高速加熱爐,溫度斜率爐,階段加熱爐。
它提高了加熱試驗?zāi)芰Α?同電阻爐和其他爐相比,紅外線反射爐節(jié)省了升溫時間和保持時間及自然冷卻到室溫所需時間,再試驗中也可改寫設(shè)定溫度值。從各方面講,都節(jié)省試驗時間并提高實驗速度。
同高頻爐相比,不需特殊的安裝條件及對加熱試樣的要求。同電阻爐一樣安裝簡單,有冷卻系統(tǒng)**可靠。以提高試驗人員的工作效率,實現(xiàn)***溫度控制操作!
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實現(xiàn)快速冷卻。
1、高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實現(xiàn)快速冷卻。
2、溫度高精度控制
近紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用,可以**控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體 靜態(tài)或流動),操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。
更強的擴展能力,實現(xiàn)一機多用
█ 多功能真空加熱 爐,可實現(xiàn)高溫、真空、氣氛環(huán)境下電學(xué)測試
█ 采用鉑金材料作為測量導(dǎo)線、以減少信號衰減、提高測試精度
█ 設(shè)備配置水冷裝置,降溫速度更快、效率更高
█ 可實現(xiàn)高溫下四探針電阻譜等測量功能
█ 進口溫度傳感器、PID自動溫度控制,使測量溫度更精準(zhǔn)
█ 近紅外加熱,樣品受熱更均勻,不存在感應(yīng)電流,達到精準(zhǔn)測量
█ 10寸進口觸摸屏設(shè)計,一體化設(shè)計機械結(jié)構(gòu),更加穩(wěn)定、可靠
█ 采用進口高頻測試線,抗干擾能力更強,采集精度更高
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣,配和鉑金電極夾具
█ huace pro 強大的控制分析軟件與功能測試平臺系統(tǒng)相互兼容
設(shè)備測量參數(shù)
溫度范圍: RT-800 (*高1650)°C 控溫精度:±0.25°C
升溫斜率:10°C/min(可設(shè)定) 測試范圍 : 0.1mΩ-100MΩ
加熱方式:近紅外加熱
冷卻方式:水冷
輸入電壓:110~220V
樣品尺寸:φ<25mm,d<4mm 電極材料:碳化鎢針
夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷 測量方式:直接四探針
測試功能:I-V、R-T等
數(shù)據(jù)傳輸:4個USB接口
設(shè)備尺寸:600x500x350mm
動態(tài)測量范圍:電流:10pA to 10A
電壓:1μV to 200V
四象限工作
0.012%的**度,5?的分辨率
可程控電流驅(qū)動和電壓測量鉗位的 6位線電阻測量 在4?數(shù)位時通過GPIB達1700讀數(shù)/秒
可選式接觸檢查功能
更強大的操作軟件
測試系統(tǒng)的軟件平臺 Huacepro ,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合功能材料的各項測試需求,具備強大的穩(wěn)定性與操作**性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復(fù)。支持新的國際標(biāo)準(zhǔn),兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。
█ 多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;
█ 即時監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽,無須等待;
█ 圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);
█ 使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;
█ 故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報警功能。
█ 試驗報告:自定義報表格式,一鍵打印試驗報告,可導(dǎo)出EXCEL、PDF格式報表
軟件兼容:Keysight( 2400、2450、2600、2650)等儀表。
強大的硬件配置
█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ雙核處理器
█ 集成打機印接口,*大可擴充8個USB接口
█ *大支持16G內(nèi)存,60G固態(tài)硬盤,讓系統(tǒng)運行更加流暢
模式選擇:根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式;
測量方式:軟件可進行介電溫譜與介電頻譜;
溫度設(shè)置:可設(shè)置升溫速度、降溫速度、*大溫度、測量等待時間等;
測量參數(shù):ε介電常數(shù)、(ε'、ε''介電常數(shù)實部與虛部)、C電容、(C’、C''電容實部與虛部、D損耗、阻、(R'、R''電阻實部與虛部)、Z、(Z'、Z''阻抗實部與虛部)、Y導(dǎo)納、Y’、Y''(導(dǎo)納實部與虛部)、X電抗、Q品質(zhì)因數(shù)、cole-cole圖譜、機電耦合系數(shù)Kp、等;
測量頻率:軟件可設(shè)置測試的頻率;
數(shù)據(jù)處理:測量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式;
圖像處理:測量曲線可保存。